產品列表PRODUCTS LIST
本低溫試驗箱可以用來考核和確定產品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內溫度的均勻性。
本低溫試驗箱滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造，可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。
本高低溫試驗箱滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造，可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。
本高低溫環(huán)境試驗設備可以用來考核和確定電工電子產品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造，可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。
本高低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內溫度的均勻性。為限制輻射影響，設備內壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗樣品不會受到設備內加熱與冷卻元件的直接輻射。
